تعداد ۲ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۴۷ ثانیه یافت شد.

1. Characterization in silicon processing

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Electric conductors.,Semiconductor films.,Silicon.,Surface chemistry.

2. Characterization in silicon processing /editor, Yale Strusser ; contributing editors, C.R. Brundle, Gary E. McGuire ; managing editor, Lee E. Fitzpatrick.

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Silicon.,Electric conductors.,Semiconductor films.,Surface chemistry

رده :

QC

611

.

8

.

S5C48

1993

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها